耐驰公司新款热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic 集成了热膨胀测量领域的最尖端技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于革命性的 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。

NanoEye

每一纳米均纳入计算
量程与分辨率的新的标杆

对于传统的热膨胀仪，测试量程与分辨率这两个参数很难两全：高分辨率只能在很小的量程中实现；如果要得到较大量程，只能牺牲一定的分辨率。

新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾，能够同时提供最高的分辨率、完美的线性度与无以匹敌的宽广量程。

工作原理

在测试过程中，当样品发生膨胀时，图中所有的绿色部分将在线性导轨（图中蓝色部分）的引导下向后移动，并由光学解码器测出相应的长度变化。

仪器特点

一体化设计，使用寿命长

DIL 402 Expedis Classic 既可配备为单样品系统，也可配备为双样品/差示系统。仪器为一体化设计，两个版本的主机均已集成了精确测量热膨胀所需的所有硬件。既没有多余的外部电缆，也不需要额外的冷却水浴。

Expedis Classic 操作简单而安全，免维护，使用寿命长，工作负担低，保证了使用者生产的顺畅性。该系统的独特的设计使得样品支架的更换十分简单，避免了损坏支架的风险。

优越的气密性和隔热设计是保证在预设气氛下得到精确结果的先决条件。气密性设计和集成的气体流量装置能够确保纯净的测量气氛。气体直接穿过测量单元和样品室。样品室的良好的隔热性则避免了由环境造成的温度波动。

操作简单

对于新款 DIL 402 的样品测试，使用预设定的测试程序能够简化操作者的测试准备过程。

仪器的 MultiTouch 功能能够利用独特的尾式顶样操作获得最正的装样效果。在预设定的接触力下，可对样品的初始长度进行自动测量。炉体的闭合具有缓冲效果，从而保证了样品位置的稳定。

DIL 402 Expedis 的热电偶位置可以灵活调整，以适应不同的样品长度。通过导向杆，可将热电偶调整至与样品长短相匹配的合适的位置，无需弯曲热电偶。

炉体的更换也十分的简单，无需专门的经验。只需几次点击操作，便能开始测试。

接触力控制

精确的接触力控制使得操作者能够测试小样品、精细、脆性样品或是泡沫样品，而保证样品不受破坏，或发生不可重复的形变，以及在整个测试过程中保持接触压力的一致性。

这一特性使得即使是不同的操作者也能够保证所测样品长度的良好重复性。滑动、滚动摩擦，以及粘滞效应在这个测量系统中都能够被避免。

DIL 402 Expedis Classic - 技术参数

- 温度范围：RT … 1600°C

- 升温速率：0.001 ... 50 K/min

- 测量系统：NanoEye（单样品，或双样品/差示系统）

- 样品支架：熔融石英或氧化铝，可自由更换。

- 温度准确度：1 K

- 温度精度：0.1 K

- m.CTE（平均线膨胀系数）重复性：10^-8 1/K

- 测量范围：± 5000 μm

- 分辨率：2 nm（全量程）

- 样品长度：0…52mm（自动样品长度测量）

- 气体控制：1 路（标配），或 3 路（选配）

- 气氛：惰性，氧化性，静态/动态

- 可选配空气压缩冷却系统